為什么sem掃描電鏡不能測試具有磁性的粉末樣品，而對塊狀樣品則沒有做過多的強調？

鐵磁性，順磁性，逆磁性估計是不用我再科普了。反鐵磁性，亞鐵磁性在電子光學領域，不用深入研究。我們強調一個概念。沒有什么材料，不能用電鏡測試。磁性粉末，可以。高分子，也沒問題。解答問題之前，先讓我讓我說幾個都稱不上實驗安全原則和實驗規范的道理吧。

1.你為什么要做？換到實驗上來說，這個實驗，你為什么要做？

做事，自然是滿足自己，對自己有好處才做。做實驗，自然能出表征結果，才去做掃描電鏡。（試錯也是實驗結果之一）

2.會不會有風險？換到實驗上來說，也就是做這個實驗，會不會造成人身財產損失？

做什么事沒有風險？換到實驗上，也是一樣。用sem掃描電鏡，自然是可能對大型儀器設備造成損壞了。

3.如果有風險，風險是否能夠規避或者降低？如果不能規避或降低，那投入和產出是否成正比？

我們都在尋找減小風險的方案。如果目前還是摸著石頭過河，那可能造成的不良后果，我們早早也就做好心理建設了。

回到問題上來。為什么掃描電鏡不能測試具有磁性的粉末樣品？（至少題主，亦或是題主的老師什么的，強調過不能。）

咱還是按照前三個方面分析這件事。

1.為什么要用sem掃描電鏡表征磁性樣品？是為了看到磁籌？還是表征粒度？不得而知。強調磁性粉末，那自然是順磁性樣品。但是，考慮到磁場與電子束的相互作用。二次電子，被散射電子，都是經過樣品磁場扭曲后，才被探頭接收后成像的。所以，像普遍都是失真的。

2.用掃描電鏡表征磁性粉末，會不會有什么不良后果？這自然是有的。sem掃描電鏡都有合適的工作距離。樣品距離所謂極靴越近，自然分辨能力就越高。考慮到電子槍發射出的電子，一般由磁場匯聚。那當你的樣品，也就是磁性粉末，距離極靴強磁場越近，那自然可能會被吸附到極靴上。之后，電子束有可能會匯聚不良，有可能不會，這取決于樣品磁性大小，吸附位置等。

3.重頭戲來了。能不能不讓樣品被吸附到極靴上？如果吸附上了，那后果你能不能接受？

盡可能不被吸附到極靴上，自然可以。可以利用包埋，鑲樣來避免樣品被吸上。同時增大工作距離。但是帶來的后果是，處理過的樣品，和你原始的樣品理化性質不能說完全不一樣，也是不盡相同。增大工作距離，分辨能力下降。

如果不幸吸附上了，拆機、清理是少不了。但可能清理不干凈。精密儀器拆解過，重新安裝，總會有些許誤差。

這些風險你如果都能接受，沒問題。但是，你能接受的，分管儀器設備的人員，他不一定能接受。再考慮到順磁性樣品圖像失真，這實驗結果，你都不一定能接受，更何況你還得承擔風險。

塊狀樣品就占了個不容易被吸到極靴上的優勢，但不容易不代表不會被吸到極靴上。順磁，塊狀一樣的失真……