掃描電鏡讓人置身于微觀世界

在材料領域，掃描電鏡起著重要的作用。它廣泛應用于各種材料的形態、界面條件、損傷機理和性能預測等研究。掃描電鏡sem可以直接研究晶體缺陷及其形成過程，觀察金屬材料中原子的聚集方式及其真實的邊界，觀察不同條件下的邊界移動方式，檢查晶體表面加工所造成的損傷等。

由于其高分辨率的特點，二次電子成像可以觀察到樣品表面約5納米的細節。放大倍數可以連續調節，所以可以根據需要選擇不同的視圖。觀察樣品視野開闊，圖像立體感豐富。它可以直接觀察到試樣表面的晶粒和試樣上不均勻的金屬斷口，使人置身于微觀世界。掃描電鏡樣品制備簡單，只要對本體或粉末樣品進行輕微處理或不處理，就可以直接進行觀察，使其更接近自然狀態。

借助電子信息技術，可以有效地控制和提高圖像質量，如自動保持亮度和對比度、傾斜角校正、旋轉圖像、y調制方式提高圖像質量，并適當調整圖像各部分的亮度和對比度。使用雙放大裝置或圖像選擇器，可以在屏幕上同時觀察到不同放大倍數的圖像。

近年來，sem掃描電鏡技術廣泛應用于材料、生物和工業的研究，分析材料微觀結構與性能之間的關系。利用電子束作為信號源，掃描電鏡可以提供納米級的分辨率，反映藥物制劑的微觀結構和成分分布等。

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