SEM掃描電鏡的工作原理

SEM掃描電鏡是一種大型分析儀器，廣泛用于觀測各種固體物質(zhì)的表面微觀結構和組成。 

所謂的掃描是指圖像從左到右，從上到下依次在圖像元素掃描過程。與電視一樣，它是由控制電子束偏轉的電子系統(tǒng)完成的。

在電子掃描中，電子束從左到右的掃描運動稱為行掃描或水平掃描，電子束自上而下的掃描運動稱為幀掃描或垂直掃描。兩者掃描速度完全不同，行掃描速度快于幀掃描速度，對于1000行掃描圖像，速度比為1000。

電子顯微鏡的工作是進入顯微觀世界的工作。在微觀世界中，這種微觀并不叫微小，我們建議在微觀技術中使用納米作為共同的測量單位，以及1納米×10-6mm。

SEM掃描電鏡成像過程與電視成像過程有許多相似之處，但成像原理完全不同。傳輸鏡采用成像電磁透鏡進行一次性成像，而掃描電鏡的成像不需要成像透鏡，其圖像在一定時間和空間順序上逐點形成，并顯示在外部顯像管上。

二次電子成像是一種利用掃描電鏡獲取的各種圖像中廣泛使用的圖像，其辨別能力也很高。我們以二次電子成像為例來說掃描電鏡成像的原則。

電子槍發(fā)射的電子束高達30千伏，通過聚變透鏡和客觀透鏡進行減小和聚焦，在樣品表面形成具有一定能量、強度和斑點直徑的電子束。在掃描線圈磁場的作用下，事故電子束以一定的空間和時間順序在樣品表面逐點掃描。由于事件電子和樣品之間的相互作用，次要電子被逐出樣品。由于二次電子收集尤的作用，可以匯集向四面八方的二次電子，然后加速尤加速到閃爍體，轉換成光信號，通過光導管到光電管，使光信號轉換成電信號。然后通過視頻放大器放大電信號并傳送到顯像管的門，顯像管調(diào)節(jié)管的亮度。因此，在折射屏幕上顯示不同程度的反射樣品表面外觀的不同程度的光和黑暗的二次電子圖像。

在SEM掃描電鏡中，樣品上的事故電子束掃描和顯像管熒光屏上的電子束掃描由普通掃描發(fā)生器控制。這確保了事件電子束的掃描和顯像管中電子束的掃描完全同步，確保樣品上的"點"在時間和空間上與熒光屏幕上的"圖像點"對應，即所謂的"同步掃描"。一般掃描圖像由近100萬個圖像單元組成，一個接一個地對應著物體，這就是為什么掃描電鏡不僅能以二維圖像的形式顯示總體外觀，還能顯示樣品局部范圍內(nèi)化學元素、光、電、磁等特性的差異。

上面的內(nèi)容就是小編介紹的掃描電鏡的原理，如果在實驗過程中掃描電鏡遇到什么問題也可以隨時聯(lián)系小編，下期再見哦